Métrologie Non-Linéaire
Bancs de mesures fréquentielles / temporelles : en puissance CW Load-Pull 1 GHz – 40 GHz et signaux modulés (EVM, ACPR, NPR) 1 GHz – 50 GHz
Ces bancs de mesures permettent de caractériser des dispositifs actifs en puissance en mode CW ou signaux modulés et dans le domaine fréquentiel ou temporel.
 Amplificateur GaN Doherty |
 Mesure du rendement en CW |
 Diagramme de constellation (modulation m-PSK) |
 Adjacent Chanel Power Ratio (ACPR) |
Caractéristiques:Bandes de fréquences : 1 GHz – 40 GHz (limitation à 26 GHz pour le domaine temporel) Plages de puissances: 10 Watts jusqu’à 50 Watts selon les plages de fréquences Connectique : coaxiale, guide d’onde, sous pointes RF |
Mesures réalisables:Paramètres mesurés: – en CW (puissance de sortie, gain, rendement, IMD), – en signaux modulés (puissance de sortie, gain, rendement, IMD, EVM, ACPR, NPR, …) Dispositifs mesurés : composants, circuits et sous systèmes actifs (diodes, transistors, amplificateurs, …) |
Banc de mesure de Thermoréflectance
Les dispositifs hyperfréquences sont réalisés avec une ou plusieurs couches de matériaux, or la réflectivité d’un matériau change avec la température. Ainsi, avec ce banc de mesure, il est possible de caractériser le coefficient de thermoréflectance et la résistance thermique.
 Principe du banc de Thermoréflectance |
 Mesure sous pointes RF de Thermoréflectance |
 Vue d’un Transistor en mesure de thermoréflectance |
Caractéristiques:Caméra 4MP – 4 sources 365 nm, 470 nm, 530nm, 780 nm Résolution spatiale 0.29 um Résolution temporelle 50 ns Résolution en température (Au : 0.5 °C (5 min)) |
Mesures réalisables:Coefficient de thermoréflectance Cth Résistance thermique Rth (°C/W) |
XLIM - Faculté des Sciences et Techniques
87060 LIMOGES CEDEX
